Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
Дата актуализации текста:
01.01.2009
Дата актуализации описания:
01.12.2008
Дата введения в действие:
01.01.1975
Область и условия применения:
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
Взамен:
ГОСТ 10964-64
Список изменений:
№1 от --1982-02-01 (рег. --1982-01-26) «Срок действия продлен» №2 от --1987-03-01 (рег. --1986-10-03) «Срок действия продлен»
Внимание! Запрошенный документ есть в базе и будет доступен к просмотру и сохранению немедленно после регистрации. Регистрация платная - 3$ (единоразово, в валюте страны плательщика). Способ регистрации - мгновенный с помощью SMS.
ГОСТ 18986.4-73
... примите к сведению...
Сервисы, которые могут пригодиться
Около 9 тыс. рецептов блюд со всего мира на все случаи жизни, для гурманов и на каждый день,
сложные и очень простые...
Наверх