Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Обозначение:
ГОСТ 26239.5-84
Статус:
действующий
Название рус.:
Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Название англ.:
Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination
Дата актуализации текста:
01.01.2009
Дата актуализации описания:
01.12.2008
Дата введения в действие:
01.01.1986
Область и условия применения:
Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01
Список изменений:
№1 от --1991-01-01 (рег. --1990-06-26) «Срок действия продлен»
Внимание! Запрошенный документ есть в базе и будет доступен к просмотру и сохранению немедленно после регистрации. Регистрация платная - 3$ (единоразово, в валюте страны плательщика). Способ регистрации - мгновенный с помощью SMS.